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测试说明 电子设备在工作时，由于高频信号及非线性器件的存在会产生高频的干扰信号，这些信号会通过电磁波辐射的方式发射到空间中，一方面会对设备自身性能产生影响，另外一方面也会影响周边其它设备。因此需要对电子设备在工作时产生的干扰信号大小进行测试并加以 限制，以保证其它敏感设备的正常工作。 指标说明 测试等级: 30MHz一6GHz 依据标准: GB 9254-2008 (IDT CISPR 22:2008/ EN 55022) GB 4824-2004 (IDT CISPR 11:2009/ EN 55011)
及采用类似测试方法的标准 测试环境: 电波暗室
测试说明 自然空间内存在大量的广播、电视、手机等电磁信号，电子设备内部也存在大量的电磁信号，这些电磁发射信号会通过空间传播的方式进入电子设备内部，并产生相应的感应信号，从而造成电子设备的性能下降或功能丧失。因此为保证电子设备的正常工作，必须对其抗干扰能力进行测试。 指标说明 测试等级: 80MHz一6GHz 10V/m 80%AM 依据标准: GB 17626. 3 IEC/ISO 61000-4-3 及采用类似测试方法的标准 测试环境：由油日吝室
测试说明 电子设备内部和外部都存在大量的互连电缆，电缆上存在的干扰信号会通过连接线进入电子设备内部并产生相应的感应信号，从而造成电子设备的性能下降或者功能丧失。因此为保证电子设备的正常工作，必须对其传导抗干扰能力进行测试。 指标说明 测试等级: 150kHz-80MHz 140dBuV typ 依据标准: GB 17626. 6 IEC/ISO 61000-4-6 测试环境: 电磁屏蔽室
通用设备电磁兼容测试系统
京公网安备 11010502035179号
